實驗室光束線裝置SAXSpoint 5.0

SAXSpoint 5.0 是采用同步加速器探測器技術(shù)的極限 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 實驗室光束線，可在緊湊型系統(tǒng)中實現(xiàn)最高分辨率。受益于安東帕出色的 SAXS 系統(tǒng)，該系統(tǒng)可解析高達(dá) 620 nm 的納米結(jié)構(gòu)。

實驗室光束線裝置SAXSpoint 5.0產(chǎn)品詳情

在最短的測量時間內(nèi)提供出色的數(shù)據(jù)質(zhì)量

SAXSpoint 5.0 采用高光譜純度和無散射光束準(zhǔn)直的高亮度 X-射線束。配備強大的微焦斑光源或 MetalJet X-射線源和高性能光學(xué)元件，可在極短的曝光時間內(nèi)提供出色的測量結(jié)果。結(jié)合最新的混合光子計數(shù) (HPC) 探測器，可確保獲得高質(zhì)量的 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 結(jié)果，以實現(xiàn)納米結(jié)構(gòu)材料分析。通過這種出色的設(shè)置，可以實現(xiàn)很好的分辨率，并以同類產(chǎn)品中緊湊的系統(tǒng)尺寸解析高達(dá) 620 nm 的結(jié)構(gòu)。

一次性獲得 SAXS 和 WAXS 數(shù)據(jù)

SAXSpoint 5.0 具有移動探測器 Slidemaster，可在非常寬的 q 范圍內(nèi)進(jìn)行全自動 X-射線散射研究。因此，您可以一次性獲得 SAXS 和 WAXS 數(shù)據(jù)，無需重新調(diào)準(zhǔn)系統(tǒng)。只需移動探測器，即可為每次實驗選擇優(yōu)良的 q 范圍，從最高 SAXS 分辨率到寬的 WAXS 范圍。

SAXSpoint 5.0 為您的測量提供自動光束遮掩器選擇和定位。由于它集成了最新的 EIGER2 R 探測器，因此可以進(jìn)行無窗和無光束遮擋測量。

簡化日常實驗工作

自動完成日常測量工作，加快測量速度，是 SAXSpoint 5.0 實驗室系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)性能。SAXSpoint 5.0 配備了 Stagemaster，它可以自動對準(zhǔn)所有 X-射線成分和樣品臺，識別安裝的樣品臺，并相應(yīng)地配置系統(tǒng)。這為您的測量設(shè)置提供優(yōu)良的可能結(jié)果。使用 ASX 自動進(jìn)樣器，對液體樣品，如分散液和生物樣品，自動樣品進(jìn)出。ASX 自動進(jìn)樣器可配備最多 192 個樣品，并針對敏感型樣品提供冷卻選件。

樣品臺選擇：一套系統(tǒng)適用于所有實驗條件

幾乎所有種類的納米結(jié)構(gòu)材料都可以使用安東帕的各種樣品臺進(jìn)行分析。使用 TrueFocus 可以輕松、快速地在不同的樣品臺之間切換，并可確保自動對準(zhǔn)所有組件。受益于測量裝置唯有的靈活性。

溫控臺：在 -150°C 到 600 °C 范圍進(jìn)行控溫研究。

濕度樣品臺：在規(guī)定的相對濕度和溫度條件下進(jìn)行分析

GISAXS/GIXD 樣品臺：在真空條件下或者與特別的 GISAXS 加熱模塊（高達(dá) 500℃）聯(lián)用研究納米結(jié)構(gòu)表面和薄膜

加熱/冷卻進(jìn)樣器：利用溫控進(jìn)樣器進(jìn)行自動研究（多固相/糊狀/液體樣品或毛細(xì)管樣品）

Tensile 樣品臺：在定義的機械載荷下，分析納米結(jié)構(gòu)纖維。定制樣品臺解決方案。

RheoSAXS 模塊：一次性進(jìn)行完整的流變和納米結(jié)構(gòu)研究

剪切臺：高達(dá) 350 °C下的剪切實驗

如果遇到特殊實驗挑戰(zhàn)，請與我們聯(lián)系。可根據(jù)需求提供定制設(shè)計的樣品臺和樣品槽。

直接獲得結(jié)果：功能強大的控制和數(shù)據(jù)分析軟件

功能強大的 SAXSdrive™ 和 SAXSanalysis™ 軟件解決方案支持自動執(zhí)行常規(guī)步驟，如測量設(shè)置和調(diào)準(zhǔn)，以及綜合數(shù)據(jù)分析。設(shè)置連續(xù)測量，利用自動進(jìn)樣、溫度掃描和時間相關(guān)研究，并使用可定制的模板分析獲得的 1D 和 2D 數(shù)據(jù)集。確定回轉(zhuǎn)半徑 (RG)、粒徑、Porod 常數(shù)、比表面積、Kratky 曲線等參數(shù)是 SAXSanalysis™ 的標(biāo)準(zhǔn)功能。對于高級結(jié)構(gòu)解析 (PCG)，如粒徑、粒徑分布、形狀和內(nèi)部結(jié)構(gòu)，可使用 IFT 和去卷積方法。

技術(shù)規(guī)格：